Winner Solution TMS系统

半导体TMS系统

从各个Subcon自动收集WAT、CP 及FT数据并进行分类整理；对原始测试数据或Wafer Map进行分析，另提供GR&R, TCS, Drift 等分析工具；对测试板、针卡、PCB、Socket、 GS、Tester、Handler、Prober等硬件等分类管理及Buyoff；对Test Plan、 Test Spec、 Test Program、Test Report以及 Checklist等管控；从提交异常单到结案，提供完整的异常处理反馈流程……

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质量管控

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数据管理系统

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数据分析系统

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数据监控系统

1

系统覆盖整个半导体设计制造流程,从NPI项目管理，芯片测试厂，封装厂，成测厂等

2

NPI项目的开发管理Milestones; MES系统看板、设备数据交换;测试数据分析与自动管控

3

各模块可自由组合嵌入系统;提供接口与ERP系统信息交换

4

移动设备操作、邮件自动发送、数据自动抓取、数据智能解析、报表自动生成

产品功能 / Product features

半导体TMS系统

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工厂FTP数据管理

CP/FT-FTP定时管理和处理、CP/FT-工厂端口控制与数据导入规则处理

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数据完整性检测

定制化报表导入上传及规则处理、工厂直接上传良率报表、关联ERP订单信息等

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测试数据合并及报告

原始数据分批合并处理、合并后的数据生成测试报告等

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测试参数分析管控

对各项参数进行统计分析、测试数据程序参数管理及测试规范监测管理等

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SBL/SYL模块

设置SBL/SYL计算规则、SYL/SBL自动预警功能以及异常定制化闭环管理等

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测试数据分析与验证

数据分析功能、分析图表功能、报告功能、数据文件处理、TCS数据验证与报告等

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MAP管理

Mapping格式转化处理、生成、合并

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测试软硬件管理

文件上传及备份、自动检测及报警、Release form管控模块、硬件信息管理等

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测试异常管理系统

低良率处理

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